Mehdi.Aref 26781 اشتراک گذاری ارسال شده در 20 دی، ۱۳۹۰ پيشرفتهاي سريع اخير در فناوري نانو مربوط به توانايي هاي کسب شده براي اندازه گيري و کنترل ساختارهاي منفرد در مقياس نانو مي باشد. آشنايي با ابزارها و تجهيزات مورد استفاده در اين زمينه مي تواند در درک اين فناوري مفيد واقع شود. [TABLE=class: text] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Transmission Electron Microscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Scanning Electron Microscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Auger Electron Spectroscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Environmental Scanning Electron Microscope[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Secondary Ion Mass Spectroscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]X-Ray Diffraction[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]High Performance Liquid Chromatography[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Mass Spectroscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Raman Spectroscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Gas Chromatography[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en] IR Spectroscopy [/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Nuclear Magneto Resonance[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]َAtomic Force Microscope[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Focused Ion Beam[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Scanning Tunneling Microscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Fourier Transform Inferred Spectroscopy[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Electron Spectroscopy for Chemical Analysis[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Rutherford Backscattering Spectrometry[/TD] [/TR] [TR] [TD] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام [/TD] [TD=class: text_en]Scanning Near-field Optical Microscopy[/TD] [/TR] [/TABLE] برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام 2 لینک به دیدگاه
ارسال های توصیه شده