معرفی XRF

[rahele_s 6,472]

طيف‌سنجي فلورسانس اشعه ايکس (XRF)

طيف‌سنجي فلوئورسانس پرتو ايکس يك روش آناليز دستگاهي است كه در آن از روش طيف نشري اشعه ايکس. براي تجزيه لايه‌هاي سطحي استفاده مي‌شود. اين دستگاه توانايي انجام آناليز عنصري به‌صورت كيفي و نيمه كمي نمونه‌هاي معدني مانند: نمونه‌هاي زمين‌شناسي، کاني‌ها، سنگ‌ها، شيشه، سيمان، سراميک‌ها، آلياژهاي فلزي و غيره را دارد. برانگيختگي نمونه در اثر تابش پرتو ايکس موجب انتقال الکتروني در لايه‌هاي مختلف اتم مي‌شود که هر انتقال الكتروني همراه با نشر يك خط طيفي پرتو x است. طول موج خطوط طيفي نشر شده مبناي تجزيه كيفي عناصر و شدت پرتوها متناسب با فراواني يا کميت عناصر موجود در نمونه است.

رديابي عناصر از سديم تا اورانيم با اين روش امكان‌پذير است، اما دقت آناليز براي عناصر سنگين بيشتر خواهد بود. يکسان بودن روش آماده‌سازي نمونه مورد مطالعه و نمونه استاندارد و يکنواخت و مسطح بودن سطح مورد آزمايش نقش مهمي در دقت و صحت نتايج حاصله دارد. اين روش به‌عنوان مکمل مطالعات کاني‌شناسي و متالوگرافي کاربرد زيادي در بررسي‌هاي باستان‌شناسي و حفاظت از آثار دارد که مي‌توان به موارد زير اشاره کرد: · شناسايي كيفي و كمي عناصر موجود در سكه‌ها · شناسايي نوع آلياژ فلزي در ظروف فلزي مكشوفه · شناسايي كيفي و كمي عناصر در نمونه‌هاي سنگ، سفال و شيشه، خاكستر، خشت و غيره

 

 

 

 

مشخصات فنی:

 

فلز هدف مورد استفاده در تیوب اشعه ایکس Microanalyzer XMF-104 ، از جنس مولیبدن می باشد.

حداکثر ولتاژ اعمالی 50کیلو ولت و شدت جریان50 میلی آمپر می باشد.

ویژگی بارز این دستگاه آنالیز نقطه ای است که نقطه مورد آزمون توسط دو باریکه لیزر مشخص می شود.

عدم نیاز به آماده سازی نمونه قابلیت آنالیز نمونه ها به صورت جامد (bulk) ، فیلم و پودررا فراهم مي سازد.

اين دستگاه توانايي آشكارسازي عناصر جدول تناوبي از سيليكون (Si) تا اورانيوم (U) را دارد.

.مهم ترين ويژگي اين دستگاه امكان آناليز سطوح به صورت غير تخريبي مي باشد

خدمات قابل ارائه:

 

 



• آناليز كيفي عناصر از Si تا U
  

• آناليز كمي عناصر از Si تا U