Mohammad Aref 120,437 اشتراک گذاری ارسال شده در 31 فروردین، ۱۳۹۶ در این کار روشی خودکار برای اندازهگیری صافی سطح قطعات نوری از طریق آزمایشهای تداخل سنجی ارائه شده است. ابتدا روابط موردنیاز برای توصیف چگونگی شکلگیری نوارهای تداخلی در آزمایشهای صافی سطح به دست آمدهاند. با توجه به روابط به دست آمده و وصف چگونگی انحراف نوارهای تداخلی از حالت صاف به حالت انحنادار در صورت ناصاف بودن سطح قطعه، روش استاندارد اندازهگیری صافی سطح مورد بررسی قرار گرفته است. در ادامه با استفاده از برنامهنویسی در محیط متلب و استفاده از الگوریتمهای پردازش تصویر، روشی خودکار برای اندازهگیری صافی سطح در آزمایشهای تداخلسنجی ارائه شده و بر اساس آن رابط گرافیک کاربری برای ارتباط آسانتر کاربران با سیستم تداخلسنجی توسعه داده شده است. کلیدواژه ها: صافی سطح؛ نوارهای تداخلی؛ الگوریتمهای پردازش تصویر نویسندگان: محمدرضا رشيديان وزيري، سميه داودي، ناصر پرتوي شبستري، مالك محمودي شربياني فصلنامه فیزیک اتمی و مولکولی، دوره 6، شماره 24، پاییز 1394 برای مشاهده این محتوا لطفاً ثبت نام کنید یا وارد شوید. ورود یا ثبت نام نقل قول لینک به دیدگاه
ارسال های توصیه شده
به گفتگو بپیوندید
هم اکنون می توانید مطلب خود را ارسال نمایید و بعداً ثبت نام کنید. اگر حساب کاربری دارید، برای ارسال با حساب کاربری خود اکنون وارد شوید .